LEITZ探針

型號：
報價：	1000

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當LEITZ探針與樣品雜交時，探針和與其互補的核酸（DNA或RNA）序列通過氫鍵緊密相連，隨后，未被雜交的多余探針被洗去。Z后，根據探針的標記物種類，可進行放射自顯影、熒光發光、酶聯化學發光等方法來判斷樣品中是否，或者何位置含有被測序列（即與探針互補的序列）。

LEITZ探針的詳細資料：

LEITZ探針測試方面
測試針，用于測試PCBA的一種探針。
表面鍍金，內部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧。
國外比較有名的有： QA ,IDI、UC、Semiprobe、ECT，INGUN，BT
探針的材質：W，ReW,CU、 A+
1.主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。
2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。
LEITZ探針分類
探針根據電子測試用途可分為：A、光電路板測試探針：未安裝元器件前的電路板測試和只開路、短路檢測探針，國內大部分的探針產品均可替代進口產品；
B、在線測試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測探針；產品的核心技術還是掌握在國外公司手中，國內部分探針產品已研發成功，可替代進口探針產品；
C、微電子測試探針：即晶圓測試或芯片IC檢測探針，核心技術還是掌握在國外公司手中，國內生產廠商積極參與研發，但只有一小部分成功生產。
探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環氧樹脂型（Epoxy Type）
垂直探針：垂直型（Vertical Type）
1.ICT探針（ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間，有業內的標準稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測試和功能測試．也稱ICT測試和FCT測試．也是目應用較多的一種探針．
2.界面探針(Interface Probes)
非標準的探針，一般是為少數做大型測試機臺的客戶定做的，例如泰瑞達（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面．
3.微型探針（MicroSeries Probes)
兩個測試點中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
4.開關探針（Switch Probes)
開關探針單*支探針有兩路電流．
5.高頻探針（Coaxial Probes)
用于測試高頻信號，有帶屏蔽圈的可測試10GHz以內的和500MHz不帶屏蔽圈的．
6.旋轉探針（Rotator Probes)
彈力一般不高，因為其穿透性本來就很強，一般用于OSP處理過的PCBA測試．
7.高電流探針（High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．zui大的測試電流可達39amps.
8.半導體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優化接觸效果，穩定性好和壽命長．
10.汽車線束測試測試探針
專業用于汽車線束通斷檢測，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A